FA1283
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● スクエア15μm高精度コンタクトと高速プロービングを実現
● Max.100points/secの高速検査
● 一般ベアボードからフレキ基板、CSPなどの微細、高密度基板まで検査可能
● 静電容量測定に加え、ダイオードなど部品内蔵基板用の計測機能も充実